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SATA/SSD高溫BIT老化柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的是為產品做潛在失效分析，因為在長時間讀寫和高溫環(huán)境下，會加速芯片老化，可能導致故障提前出現(xiàn)。
BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤進行循環(huán)寫入測試，再放入高溫箱中靜置。
